產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
（1） 主要應(yīng)用:
○硅鋼片的進(jìn)、出料試驗(yàn).
○鍛燒過(guò)程中的品質(zhì)控制.
○矽鋼片的品質(zhì)管理等.
（2） 設(shè)備特點(diǎn):
* 非破壞性的測(cè)量方式,且能直接讀取其鐵損值.
* 鐵損值以 W/kg 顯示方式.
* 采用觸摸式數(shù)碼設(shè)定開(kāi)關(guān),操作方便、明了.
* 探頭離開(kāi)試樣時(shí)自動(dòng)停止測(cè)試，避免長(zhǎng)時(shí)間工作.
* 利用標(biāo)準(zhǔn)鐵板利于探頭的校準(zhǔn).
* 自動(dòng)控制磁通密度.
* 抗電源雜訊功能強(qiáng),無(wú)須使用 AC 穩(wěn)定電源.
* 只需要一個(gè)測(cè)試探頭，可適應(yīng)各種試樣的厚度和寬度.
（3） 測(cè)試原理:
將繞有激磁線圈和磁束檢出線 U 型磁鐵置于被測(cè)試樣上即形成閉合磁路。如果該 U 型磁鐵的磁路斷面 面積比試片內(nèi)磁路斷面面積大許多時(shí)，則激磁線圈加電壓時(shí)所產(chǎn)生的激磁電流與磁通檢出線圈上產(chǎn)生的電 壓乘積即為試片內(nèi)之損耗。本測(cè)定器備有試片厚度和測(cè)定用磁能密度選擇開(kāi)關(guān)，選擇、設(shè)定后，試片的鐵 損值便可立即讀出。鐵損值可由此式得知：鐵損=試片內(nèi)損耗 /試片內(nèi)磁路部分的有效重量。
試片內(nèi)磁路部分的有效重量為試片厚度、試片內(nèi)磁路面積與試片密度的算術(shù)乘積。而本裝置的內(nèi)置磁 路寬度與長(zhǎng)度已固定，只需設(shè)定板厚與磁通密度即可測(cè)定鐵損。
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